适用入嵌入式单片机的压缩算法
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英文电子版JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试)。标准规定了基于资格规范执行有效耐久性、保持力和交叉温度测试的程序要求。 JESD47 中规定了耐久性和保持性鉴定规范(针对循环计数、持续时间、温度和样本大小),或者可以使用 JESD94 中基于知识的方法制定。
UNH-IOL_NVMe-MI_Conformance_Test_Suite_v15.0
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