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《数字逻辑》--实验指导书2015最新.docx
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《数字逻辑》
实验指导书
计算机科学与技术与学院
二○一五年
目 录
实验一 集成门电路逻辑功能测试及逻辑变换....................................1
实验二 组合逻辑电路功能测试及应用电路设计 ...............................5
实验三 触发器的应用 .............................................................................9
实验四 计数器及其设计......................................................................12
实验一 集成门电路逻辑功能测试及逻辑变换
【目的与要求】
1、掌握 TTL 集成逻辑门电路的逻辑功能和测试方法。
2、掌握 TTL 器件的使用规则以及实现逻辑变换的方法。
3、学习查阅集成电路器件手册,熟悉集成电路封装与引脚。
4、熟悉数字电路实验装置的结构、基本功能和使用方法。
【实验仪器和器件】
1、数字电路实验箱
2、实验器件 74LS00、74LS32、74LS86
【实验原理】
74LS00 为二输入四与非门,即在一块集成芯片内含有四个互相独立的与非
门,每个与非门有两个输入端。
与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为
高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平。其逻辑表达式为:
Y AB
。
74LS32 为二输入四或门,即在一块集成芯片内含有四个互相独立的或门,
每个或有两个输入端。或门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是高电
平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为低电平时,输出端才是低电平。其
逻辑表达式为:Y=A+B。
74LS54 是 一 个 2-3-3-2 输 入 与 或 非 门 , 其 逻 辑 功 能 为 :
Y A B C D E F G H I J
74LS86为二输入四异或门,即在一块集成芯片内含有四个互相独立的异或
门,每个异或门有两个输入端。异或门的逻辑功能是:当两个输入为相同的电平
时,输出端为低电平;当两个输入为不同的电平时,输出端为高电平。其逻辑表
Y A B
达式为:
。
1
【实验内容】
1、集成逻辑门电路的功能测试
(1)测试与非门 74LS00的逻辑功能,给出测试电路及其真值表。
74LS00真值表
A
B
Y
(2)测试或门 74LS54的逻辑功能,给出其真值表。
由于实验箱输入端个数的限制,所以为了在现有实验条件下测试其功能,对
芯片与或非门 74LS54做如下的连接并进行测试,结果填入下表。
Y A B C D E F G H I J
1 0 0
74LS54 真值表
A
B
C
D
Y
2
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