实验一基本门电路的逻辑功能测试.docx
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2022-06-14
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实验一 基本门电路的逻辑功能测试
一、实验目的
1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理
实验中用到的基本门电路的符号为：
在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元
显示其逻辑功能。
三、实验设备与器件
1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、相应 74LS 系列芯片若干。
四、实验内容
测试 TTL 门电路的逻辑功能：
a） 测试 74LS08（与门）的逻辑功能。
b） 测试 74LS32（或门）的逻辑功能。
c） 测试 74LS04（非门）的逻辑功能。
d） 测试 74LS00（与非门）的逻辑功能。
e） 测试 74LS02（或非门）的逻辑功能。
f） 测试 74LS86（异或门）的逻辑功能。
五、实验步骤
1、按照芯片的管脚分布图接线（注意高低电平的输入和高低电平的显示）。
2、测试各个芯片的逻辑功能
六、实验报告要求
1. 画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。
2. 根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。
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