新时代离子迁移试验装置
绝缘劣化评价装置 ECM- 100 系列
J-RAS
株式会社
１CHANNEL完全独立计测
ALL-IN-ONE计测
优秀的操作性
每个 CH的电压印加 ? 高速 16msec计测回路
本体单体可以进行计测 ? 试验槽制御
简单操作以及充实机能
?绝缘电阻值进行 高精度 ?高信赖性 ?高效率的 评价。
从当今的地球 ?市场环境来看，省能源 ?铅/ 无卤素 ?小型轻量 ?低价格 ?高信赖等观点出发的，
新素材 ?新实装方法的研究开发 ?评价方法的重估是必须的。
J-RAS 公司 把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列 。
简介 ：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（ BIAS VOLTAGE）, 经过长时间的测试（ 1～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ ION MIGRATION）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻
试验，或者是 OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。 （ION MIGRATION TESTING）
适用规格 ：JPCA-ET01-2001
高速?ｈ毎的完全独立 计测
ECM-100可以对每个 Channel 进行完全独立计测 ? 制御。通过减少 Channel 间的干涉，实现高速处理。
CHANNEL个别地控制印加电压
可以对个别 Channel 进行不同的印加电压设定。
可以从 1V～到 300V自由进行印加电压设定。
搭载有电压／电流用 16msec高速 AD转换器
全 Channel 同時数据收集功能， 可以计测实际的电阻値。
对个别电流范围进行最适合的移动平均、 实现电源有害
信号的除去和高速 LEAK-TOUCH的检出。
CHANNEL个别搭載的电流制限回路
即使某 Channel 发生 LEAK-TOUCH、也不影响其他的 Channel 。
无论是任何数值的印加电压、 700Μa 的电流制限功能都可以防止树枝状的焼損。
令人感到「便利」、「高性能」的计测回路（ HIGH-SIDE计测 ? CLAMP回路 ? TRIAXIAL线）
由于采用 HIGH-SIDE计测回路， GND线是由１根 / 组构成。
＞ 从而实现了焊锡工数的减低、计测线（每组包含 GND线 1 根）维持费的节约。
由于采用 TRIAXIAL 线、 active-guard 功能使其不受周围信号的影响。
采用 CLAMP回路，从而避免了 LEAK-TOUCH后的 OVERSHOOT。
高 C负荷 ( 实际成绩 300V 470 μF) 驱动可能。对于部品内蔵基板的评价等也是最适合的。
计测回路编辑图（ 1
Channel
份）
◆每个 CH 的完全独立计测
DA
30V
300V
电流制限回路
I/V 回路
计测线
（GND 側）
防止
树枝状烧损
TRIAXIAL 线
16msec
同时计测
电流计测 AD
电压计测 AD
计测线
（HIGH-SIDE 側）
可以 对各别 CH 进行不同的电压试验
1.5V
3.3V
5.0V
12V
24V
CH1 CH2 CH3 CH4 CH5
GND
容易的对样本的电压依存性进行评价
CLAMP
回
路
防止
OVERSHOOT
充分追踪 leak-touch 的高速抽取样本処理功能
高速数据收集 功能不放过 LEAK-TOUCH 。
时间
电阻值
： 电阻变动
● ： 数据收集
