论文研究-软错误与老化在线并发检测器 .pdf

软错误与老化在线并发检测器，杨叔寅，黄正峰，CMOS工艺尺寸不断缩减，NBTI为主导的老化效应以及SEU等软错误日益明显，影响着器件的正常工作。针对老化造成的时序违规故障及SEU故障�