GaN共振隧穿二极管及THz振荡器仿真,何寒冰,杨林安,本文利用Silvaco软件对GaN共振隧穿二极管(GaN RTD)进行仿真,重点考虑了界面陷阱密度对GaN RTD 量子阱性能及负阻特性的影响。结果显示��
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