掺杂碲镉汞带边结构的光谱对比研究,越方禹,,利用变温透射/吸收谱和调制光致发光谱分别研究掺杂碲镉汞带边结构,发现两种光谱方法在确定材料禁带宽度等重要参数时存在明显差��
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