检测CMB中的文物引力波：宇宙双折射引起的污染

宇宙微波背景（CMB）辐射的B模式极化是检测遗留引力波的绝佳信息通道。 但是，检测受到其他一些效应所产生的B模式极化的污染。 在本文中，我们讨论了由宇宙学双折射引起的污染，该污染将CMB E模式转换为B模式，并形成了用于检测引力波的有效噪声。 我们发现，如果旋转角度很大，这种污染就很严重。 但是，这种B模式可以适当地旋转，并且可以大大降低有效噪声。 我们发现，与宇宙弱透镜引起的污染相比，宇宙双折射产生的残留偏振对于CMB中的遗留引力波的检测可以忽略不计。