基于光电二极管检测电路的噪声分析与电路设计 (2009年)

利用噪声和信噪比的理论公式及等效电路模型，分析光电二极管检测电路噪声产生的原因．给出低噪声光电检测电路的设计原则，并设计基于光电二极管低噪声前置放大电路．结果表明：光电二极管的噪声主要是光转换器件内部电阻及PN结中载流子随机涨落引起的热噪声和散粒噪声，该噪声与光电二极管结构、材料、温度、工作电压及外部环境的干扰有关；前置放大电路的噪声主要与前置放大器的噪声电压、噪声电流、温度变化及反馈电阻有关．