在s = 8 TeV的质子-质子碰撞中测量微分和双微分Drell-Yan截面

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给出了在电子和channels子通道中的差分和双差分Drell-Yan截面的测量结果。 它们基于在LHC上用CMS检测器记录的s = 8TeV的质子-质子碰撞数据,对应的综合光度为19.7 fb-1。 从双电子和双介子通道的组合获得的Z峰区域(60–120 GeV)中的测量包含端截面为1138±8(exp)±25(theo)±30(lumi)\,pb,其中 统计不确定性可以忽略不计。 在差分物质质量范围15–2000 GeV中测量微分截面dσ/ dm并校正至整个相空间。 双微分截面d2σ/ dmd | y | 在20至1500 GeV的质量范围内以及从0到2.4的绝对双链快速度下也测得δ值。

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