关于纠缠熵的形状依赖性

我们通过使对称纠缠表面变形来研究纠缠熵（EE）的形状依赖性。 我们显示出具有旋转或平移对称性的纠缠表面相对于破坏某些对称性的形状变形（即一阶校正消失）将EE极端（局部）化。 此结果适用于任何维度的任何QFT的EE和Renyi熵。 使用4d的Solodukhin公式和任何d的全息图，我们计算出CFT和简单对称纠缠表面的通用EE的二阶校正。 对于几个纠缠表面，我们发现任何扰动的二阶校正都是正的，因此相应的对称纠缠表面是局部最小值。 一些结果扩展到自由大块场和4d Renyi熵。