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本文主要针对处理测试数据量较大的一类测试系统,讨论测试数据的存储和管理问题。这类测试系统往往由抗干扰能力较强的单片机和大容量、掉电保护的存储芯片组成,同时配有高精度数字式传感器;造价便宜,性能稳定,适合工作在工业现场,保存和处理大量测试数据,有的甚至能够与上位机组成测控网络完成更为复杂的测试任务。
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