遥控器晶振寿命筛选电路设计

摘要：晶振是遥控器控制电路中关键的零部件之一，起着举足轻重的作用，而晶振的过早失效是造成遥控器故障的主要原因之一。本文从遥控器的工作原理和晶振的工作原理、失效模式及失效分析出发，阐述遥控器晶振寿命筛选电路的设计，来进行晶振寿命筛选，达到对晶振质量的控制。 　　1 引言 　　从市场故障遥控器技术分析情况来看，遥控器主要质量问题的表现是：遥控器在上电复位检查时，遥控器液晶显示器字符有一定规则的缺显，同时遥控器不开机；通过测量检查是电路不振荡，经实际统计电路不振荡大多是32.768kHz晶振过早失效所致。从零部件进厂检验角度看，需要对晶振进行长时间的寿命筛选试验，来有效地控制晶振过早失效，提高晶