半导体激光器电导数及其可靠性的研究

为了探索和验证半导体激光器电导数参数与其可靠性的关系，将12 个半导体激光器串联后进行高温加速电老化，直到器件不激射。监测在加速老化过程中半导体激光器电导数参量的变化情况。通过分析老化期间监测的数据，发现电导数曲线在阈值电流处的下沉高度随着老化时间的增加而变小；结特征参量与电导数曲线（在大于阈值电流的工作状态下）在电流I=0 处的截距值随着老化过程逐渐变大。并且结特征参量的变化量在早期处于比较小的平稳状态，然后快速增加到一定值并保持一段时间，之后快速下降并最终稳定在比较小的值，这说明器件退化分为3 个阶段：在早期退化较慢，之后退化很快并保持一定的退化速度，最后又到了慢速退化期。从实验结果得知电导数参量与器件的寿命和老化程度有密切关系，并且电导数参数可表征半导体激光器的退化状态。