本系列文章的第一部分介绍了关于锁相环(PLL)的基本概念,说明了PLL架构和工作原理,同时以一个例子说明了PLL在通信系统中的用途。在第二部分中,我们将侧重于详细考察与PLL相关的两个关键技术规格:相位噪声和参考杂散。导致相位噪声和参考杂散的原因是什么,如何将其影响降至最低?讨论将涉及测量技术以及这些误差对系统性能的影响。我们还将考虑输出漏电流,举例说明其在开环调制方案中的重要意义。
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