线偏振光反射法测量介质材料折射率的方法


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依据线偏振光反射原理,实现了对介质折射率的测量。使用高准直半导体激光器激光入射到待测样品表面,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品反射光强随入射角变化的关系曲线;当用p线偏振光入射时,曲线上有一光强随入射角的变化趋近于零的点,其对应入射角为布儒斯特角,由线偏振光反射原理可求得样品折射率。用此方法测量了玻璃和棱镜的折射率,测量的结果偏差控制在1×10-3量级,测量的重复性比较好。

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偏振光matlab仿真
2018-04-22光学偏振光“光密介质射入光疏介质时二向衰减系数随入射角的变化”matlab仿真
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偏振光反射法测量薄膜参数
2021-02-06根据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法,研究了薄膜材料的厚度、实际测量中的噪声、特殊入射角三个因素对薄膜参数测量精度的影响。对SiO2薄膜样品进行数值模拟分析,结果表明,薄膜厚度大于150 nm时的反演误差较小,50 nm以下的薄膜反演误差较大;噪声越小测量精度越高;SiO2薄膜存在特殊的入射角,该角选为初始入射角将出现较大误差甚至错误,测量时应避开。若初始入射角的选取偏离特殊角±2°,即可消除特殊点所带来的影响。
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基于偏振光反射多点法测量薄膜参数
2021-02-06依据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法,实现了对薄膜材料折射率和厚度的精确测量。将高准直半导体激光入射到薄膜样品与空气分界面上,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品的反射率随入射角变化曲线。在曲线上取不同入射角处所对应的反射率,根据计算公式求解出多组薄膜厚度和折射率。利用已测量的多组反射率与求解出的薄膜参数相应反射率拟合后可确定出薄膜参数最优解。在求出的薄膜参数附近拓展一定范围再次拟合,可求出更精确的薄膜参数。基于此方法测量了SiO2薄膜的折射率和厚度,测量折射率误差不超过0.3%,厚度误差不超过0.07%。
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测量薄膜厚度及其折射率的光学方法
2009-06-23介绍了椭圆偏振法、棱镜耦合法和干涉法测量薄膜厚度和折射率的基本原理和仪器组成,并分析了它 们的特点及存在问题,指出选择测量方法和仪器应注意的问题
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圆偏振光和椭圆偏振光的获得和检验
2010-03-22圆偏振光和椭圆偏振光的获得和检验 圆偏振光和椭圆偏振光的获得和检验
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利用P-偏振光双面反射法测量多层膜的光学参数
2021-02-11利用P-偏振光双面反射法测量了浸泡提拉法制备的“有机硅树脂-二氧化硅-有机硅树脂”三层膜样品两面P-偏振光反射光强比γ与入射角θi关系曲线,经过数据拟合,确定了这三层薄膜的光学参数,同时研究了薄膜间的相互作用层的光学参数。测量结果表明此方法可能成为研究薄膜和膜层之间相互作用的一种新手段。
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影响基于偏振光反射超声探测技术的因素
2020-02-24影响基于偏振光反射超声探测技术的因素,朱晓昳,李长辉,传统基于压电材料的超声换能器已经被广泛应用,然而他们的带宽往往受到限制。超声探测和新兴的光声成像都需要高带宽、小尺寸和高
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偏振光导航.pdf
2019-06-03摘要:本文简单的介绍了偏振光导航的发展背景、偏振光导航的基本原理以及偏振光导航 的发展历程,同时提出了偏振光导航需要解决的问题。
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泄漏辐射模显微镜测量薄膜的局域双折射率
2021-02-09介质双折射率的传统测量方法有偏振光椭圆率测量仪和光学相干断层扫描等。提出一种新型的介质双折射率测量方法切向偏振光照明的泄漏辐射模显微镜激励波导模共振,通过对物镜后焦面的傅里叶光谱信息进行成像,测量介质的双折射率。分析了利用切向偏振光照明的泄漏辐射模显微镜测量介质双折射率的原理并测量了双折射率差为Δn≈0.005的偶氮聚合物薄膜的光致双折射效应,该方法可实现高灵敏度、高空间分辨率的双折射率测量。
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光纤通信中偏振光消光比测量方法的研究.pdf
2019-09-05光纤通信中偏振光消光比测量方法的研究
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自然光在玻璃表面发生反射和折射的偏振现象及特征.
2011-11-05光学 自然光在玻璃表面发生反射和折射的偏振现象及特征.
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利用分光光度计测量光学晶体的折射率
2021-02-12晶体折射率的准确测定是晶体上薄膜器件设计的基础。介绍了利用分光光度计测量晶体折射率的方法,通过背面影响系数法、背面镀增透膜和将两者结合起来的方法消除晶体反射率测量时背面反射带来的影响,给出了具体的步骤并对测量误差进行了分析。由于晶体的光学各向异性,采用起偏器扫描的方法测量晶体光学性质随方向的变化。通过对LiB3O5晶体的折射率的测量,证实了该方法的可行性并可用于其他光学晶体折射率的测量。
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天空偏振光测量系统的设计
2011-04-20天空偏振光测量系统的设计,天空偏振光测量系统的设计
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基于p偏振光双面反射的薄膜传感器光学参数的优化
2021-02-11p偏振光在镀膜平板玻璃上、下表面反射光强比γ的角度调制曲线的性状与膜层光学参数密切相关。分析了γ与膜层折射率、消光系数及膜厚的相对梯度随光学参数变化的关系,为基于p偏振光双面反射的薄膜传感器选择最佳参数提供了理论依据,计算表明该类型传感器对膜层折射率的测量分辨率高达10-7。对不同工艺条件下得到的溶胶-凝胶SnO2膜进行光学参数测定及初步气敏实验,结果表明p偏振光双面反射可作为高灵敏度光化学传感器的检测方法。
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偏振光斯托克斯参量测量原理与测量方法设计
2021-02-10斯托克斯参量是描述偏振光特性的重要参量, 它能给出偏振光的偏振度(DOP)的数值, 因此偏振分析仪多采用测量斯托克斯参量的方法来设计。从斯托克斯参量的定义出发, 利用准单色光波的相干矩阵法, 推导了斯托克斯参量的测量原理, 并提供了多种实验测量斯托克斯参量的设计方法。对比分析了三种测量斯托克斯参量的方法, 并用相干矩阵方法证明了用测量光功率表达的偏振度的正确表达式。
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偏振光STOKES矢量计算
2013-09-16计算偏振光stokes矢量的小工具,同时可以通过已知的stokes值反演偏振光的偏振状态。C#开发学习之用
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天空偏振光分布的实验研究
2018-04-25天空偏振光可以用来导航,研究天空偏振光的分布特征是前提,这篇文章主要介绍了天空偏振光的分布特征,可以对天空偏振光的分布形态有深入的理解。
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研究玻璃表面层参数的一种新方法——平板双面偏振光反射光强比的测量
2021-02-09力偏振光在玻璃或其它透明材料平行平板前后表面反射光强比值与入射角的关系。对样品表面层的物理参数(折射率、厚度和吸收)很敏感,特别是当表面层的折射率与平板基底的折射率很接近时,尤其明显。本文结出的薄膜光学为基础的数字模拟和初步实验结果。采用数值拟合的方法,根据比值与角度的实验曲线可以得出样品表面层的物理状态。本法设备简单,结果直观。
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光学课件 偏振光干涉
2010-03-22光学课件 光学课件 偏振光干涉 偏振光干涉
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Linux_Fastboot.7z
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完整Spring框架,包含源码文档等 spring-5.2.9.RELEASE-dist.zip
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20210416-第一财经商业数据中心-新青年文化洞察.pdf
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片段教学要牢记教师考试资料汇总.doc
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哈佛大学「生物医学网络表示学习」最新综述论文
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小学数学说课稿教师资料汇总.pdf
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jdk-16_linux-aarch64_bin.rpm
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Operator Mono 和 mononoki
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心理学讲义答案教师考试资料.pdf
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