二进制差分随机过程键控的结构与性能分析

所需积分/C币:5 2021-01-15 01:24:23 2.04MB PDF
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提出了一种二进制差分随机过程键控的调制解调结构,推导出了在高斯信道和准静态衰落信道下的误比特率理论计算公式,并对系统进控 行了误比特率和二阶循环谱检测的仿真。仿真结果表明,提出的差分随机过程键,在高斯信道下大约在?2 dB、在准静态瑞利衰落信道下大约在25 dB的信噪比下具有10

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