基于Czerny-Turner分光结构的成像光谱仪光学系统，介绍了一种用于电离层观测的远紫外成像光谱仪光学系统设计方法。分析了该结构的像差来源，提出了使用发散光照明光路的消像差方法，计算了像差校正条件。设计了工作在120~180 nm波长范围内的远紫外成像光谱仪光学系统，视场角为6.0°×0.1°，焦距为121.8 mm，F数为6.2。利用调制传递函数(MTF)和成像仿真分析的方法对该系统的主要性能参数进行了评价，验证了设计的成像光谱仪的光谱分辨力优于1.0 nm，空间分辨力优于0.1°，完全满足电离层观测的应用要求。与同类设计相比，该系统不含非球面光学元件，加工装调简单且易于工程实现。
