RFID技术中的针对V93000 SoC测试系统，惠瑞捷发布Port Scale射频测试方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。 可提供快速架构 　　Port Scale射频测试解决方案的设计采用固态半导体组件，因此所有的射频资源都集中在V93000的测试头中。不同于其它采用速度慢的外接设备的解决方案，Port Scale是以高速的固态半导体组件为基础所设计的射频测试解决方案，完全不会减损速度、性