新兴测量需求解决方案的领导者吉时利仪器公司（NYSE:KEI），宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入 4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。在 4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实现专业级的C-V测量。
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