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北京师范大学串列实验室建立了外柬质子激发X荧光(PIXE)分析装置。外束引出窗口采用7.5μm厚Kapton膜。为了保护加速器系统,在外束管道中安装自己设计制作的快速真空保护阀。考虑到绝缘样品不能直接测量束流积分,在RBs靶室放置175nm金箔,并建立了金RBS峰面积和柬流积分之间的关系,这样在采集外束PIXE能谱的同时,通过记录金箔RBS信号就可获得束流积分。对GBW07306水系沉积物有证标准物质进行了外束PIXE测量及定性分析,并与真空PIXE结果进行了比较。
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