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短波红外(SWIR)光1
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2022-08-08
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由于SWIR波长传输通过的专为SWIR设计的玻璃、透镜和其他光学组件(滤光片、窗口片等) 可以使用与可见光组件相同的工艺制造,因此可降低制造成本,在系统内使用保
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短波红外(SWIR)光一般定义为 0.9-1.7μm 波长范围内的光线,但也可归入 0.7-2.5μm
波长范围。由于硅传感器的上限约为 1.0μm,SWIR 成像需要能在 SWIR 范围内工作的独
特组件。砷化铟镓(InGaAs)传感器是在 SWIR 中使用的主要传感器,可覆盖典型的 SWIR
频带,但可扩展低至 550nm 和高至 2.5μm。虽然市场上可提供线性线扫描 InGaAs 传感器,
但区域扫描 InGaAs 传感器一般受到 ITAR 限制,只能用于特定商业应用,且必须获得适当
许可。SWIR 成像透镜可根据 SWIR 波 长专门设计、优化和进行抗反射镀膜(镀减反膜)。
ITAR(国际条约和武器条例)由美国政府实施。 受 ITAR 限制的产品必须遵守严格的出入
口条例,才可在美国境内和境外制造和/或销售。然而,如 SWIR 之类的透镜可在具有适当
许可证的情况下用于许多商业应用。
图 1: 说明 SWIR 波长范围的电磁光谱
为什么使用 SWIR?
物体本身就可以辐射出中红外(MIR)和远红外(LWIR)光,近红外(SWIR)和可见光比
较类似,所发出的光子都会被物体反射或吸收,如果需要呈高对比 度的像则需要分辨率更
高。周围环境的星点光以及背景辐射(夜间发光)会发射近红外光并提供较好的户外照明,夜
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