学术不端案例分析-“汉芯事件”案例分析
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2019-12-28
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“汉芯事件”案例分析
⼀、案例描述
“汉芯事件”是指2003年2⽉上海交通⼤学微电⼦学院院长陈进教授发明的“汉
芯⼀号”造假，并借助“汉芯⼀号”，陈进又申请了数⼗个科研项⽬，骗取了⾼达
上亿元的科研基⾦。中国亟待在⾼新科技领域有所突破， ⾃主研发⾼性能芯⽚
是我国科技界的⼀⼤梦想。陈进利⽤这种期盼，骗取了⽆数的资⾦和荣誉，使
原本该给国⼈带来⾃豪感的“汉芯⼀号”，变成了⼀起让⼈瞠⽬结⾆的重⼤科研
造假事件。
所谓的“汉芯⼀号”采⽤国际先进的0.18微⽶半导体⼯艺设计，在只有⼿指指
甲⼀半⼤⼩的⼀个集成块上有250万个器件，⽽且具有32位运算处理内核，每
秒钟可以进⾏2亿次运算。经过国内权威专家验证，认为这⼀成果接近国际先
进技术，在某些⽅⾯的性能甚⾄超过了国外同类产品。[1]!“汉芯1号”于2003年2
⽉26⽇正式发布，时任上海市副市长以及相关部门负责⼈都出席了当天的发布
会，在发布会上，由王阳元、邹⼠昌、许居衍等知名院⼠和“863计划”集成电路
专项⼩组负责⼈严晓浪组成的鉴定专家组作出了⼀致评定：上海“汉芯1号”及其
相关设计和应⽤开发平台，属于国内⾸创，达到了国际先进⽔平，是中国芯⽚
发展史上⼀个重要的⾥程碑。[2] ! 此后被视为“汉芯1号”发明⼈的陈进⾃然也是
荣誉加⾝。“汉芯”项⽬成为国家级重点科技攻关项⽬，有关部门下拨⼤量课题
经费。上海市科委授予陈进上海市科技创业领军⼈物称号，2004年上海交⼤将
其特聘为长江学者。同时，陈进本⼈还⾝兼数职，上海交⼤微电⼦学院院长、
上海硅知识产权交易中⼼CEO，上海交⼤汉芯科技有限公司总裁、上海交⼤创
奇科技有限公司总经理。[2]!
2006年1⽉17⽇，有神秘⼈物在清华⼤学⽔⽊清华BBS上，公开指责上海交
通⼤学微电⼦学院院长陈进教授发明的“汉芯⼀号”造假。[1]!⼀些嗅觉敏锐的媒
体很快介⼊，进⾏了艰难的追索和求证。在举报⼈和媒体的共同努⼒下，⼀个
个事实渐次浮出⽔⾯。
2006年1⽉28⽇，科技部、教育部和上海市政府成⽴专家调查组并开始⼯
作，在其后的两个多⽉的时间⾥，专家调查组，针对举报⼈对“汉芯”事件的举
报内容，采取与举报⼈、当事⼈和相关⼈员⾯谈、现场查验技术⽂档、分析对
⽐有关技术资料、查验芯⽚演⽰系统和调阅相关⾳像资料等⽅式⽅法，对“ 汉
芯” 系列⼀⾄四号芯⽚的设计过程和性能指标等进⾏了全⾯调查与核实。调查
结论如下：[1]!
陈进在负责研制“汉芯”系列芯⽚过程中存在严重的造假和欺骗⾏为，以虚假
科研成果欺骗了鉴定专家、上海交⼤、研究团队、地⽅政府和中央有关部委，
欺骗了媒体和公众。
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