《数字电路》八路抢答器的设计与制作
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2011-04-09
16:55:26
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实验一 集成逻辑门电路逻辑功能的测试
一、 实验目的
1、 熟悉 Multisim8.0 软件的基本功能和使用方法。
2、 掌握如何使用 Multisim8.0 软件进行与非门、异或门的逻辑功能测试及测试方法。
二、 实验内容
1、 TTL 集成门电路逻辑功能的测试
（1）“与非门”逻辑功能的测试
进入 Multisim8.0 软件仿真环境，从元器件库栏中取出测试电路所需的电路元器件，按
下图连接电路。
连接电路完成，按下“运行”按钮，启动电路并进行测试，将测试结果填入真值表中。
得表达式为
表一 “与非门”逻辑功能真值表
输入逻辑状态 输出
A B C
TTL 电位/V
1 1 1 0
0 1 1 5
0 0 1 5
0 0 0 5
（2）测试 74LS86(四异或门)逻辑功能
进入 Multisim8.0 软件仿真环境，从元器件库栏中取出测试电路所需的电路元器件，按
下图连接电路。
连接电路完成，按下“运行”按钮，启动电路并进行测试，将测试结果填入真值表中。
得表达式为 Y=A
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