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从上班到现在已经一年了,我天天都在和8051MCU核打交道,但是因为自己的懒惰与懈怠,还有骄傲自满的情绪,一直没有深入了解掌握MCU核的架构,更没有想清楚一个重要的问题,就是假如让我负责一个项目,需要用到一个现成的MCU核,第一步,应该怎么测试它的性能?第二步,应该怎样搭建外部扩展电路,使之能够与我们的系统整合在一起?最后,如果是我自己设计,怎么进行MCU核的设计和改进? 一直在思考这三个问题,但一直没有很清楚的头绪。我想,当我能够想清楚并且做好这三件事的时候,数字电路对我来说就不是什么难事,而只是项目经验的简单积累了。
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前言
从上班到现在已经一年了,我天天都在和 8051MCU 核打交道,但是因为自己的懒惰与懈
怠,还有骄傲自满的情绪,一直没有深入了解掌握 MCU 核的架构,更没有想清楚一个重
要的问题,就是假如让我负责一个项目,需要用到一个现成的 MCU 核,第一步,应该怎
么测试它的性能?第二步,应该怎样搭建外部扩展电路,使之能够与我们的系统整合在一
起?最后,如果是我自己设计,怎么进行 MCU 核的设计和改进?
一直在思考这三个问题,但一直没有很清楚的头绪。我想,当我能够想清楚并且做好这三
件事的时候,数字电路对我来说就不是什么难事,而只是项目经验的简单积累了。
加油!
问题 1--如何测试现成的 MCU 核
最常用的是 Intel X86 核和 ARM 核,前者不开放,后者目前没接触到。现在一直是测试
8051 核,所以就从 51 核开始总结吧!
1. 数据存储器 RAMX 测试
写一个测试程序,一次将 RAMX 的所有单元都写 1,然后读取,哪个不是 1 就是坏点,然
后再写 0.将测试程序放入 ROM,上电后 MCU 核会自动从 ROM 中读入指令并执行,也就完
成了测试。如果测试不通过就报错,报错方式多种多样,比如亮灯。
2. 内部指令存储器 RAMI 测试
目前我们的 51 核没有内部 RAM,我们外接了一个 RAMI,测试方法与 RAMX 同样。对于老
版的 MCS51 系统,内有 128BYTE 的 RAM,分成多个分区,包括工作寄存器,位寻址,特
殊功能寄存器等,要测试比较复杂,但似乎从来没有必要测试?
3. 外部数据存储器 Flash 测试
同 RAMX,遍历。由于 Flash 比较大,出错的概率也大很多。测试方法也比较多,有奇偶测
试法,对角线法,步长法等。
4. 外部固件存储器 ROM 测试
首先往固件 ROM 写入亮灯的 Firmware,上电后自动亮灯,既测试了 ROM 又测试了输出。
进一步的测试要考 CRC。
5. 输入输出模块功能测试
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bowanghou88
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